半导体后端工艺|第十一篇(完结篇):半导体封装的可靠性测试及标准
judy-- 周三, 08/28/2024 - 09:29
本文将介绍半导体的可靠性测试及标准。除了详细介绍如何评估和制定相关标准以外,还将介绍针对半导体封装预期寿命
本文将介绍半导体的可靠性测试及标准。除了详细介绍如何评估和制定相关标准以外,还将介绍针对半导体封装预期寿命
安森美可靠性审核程序提供了一种强大的方法,可以发现 IGBT 产品线中潜在的工艺异常迹象
本文介绍安森美的IGBT常规进行的可靠性测试