长光辰芯发布GLT5009BSI-DUV版本，助力半导体缺陷检测 judy-- 周四, 08/15/2024 - 14:43 产品采用先进的背照式技术，在GLT5009BSI可见光版本的基础上，DUV版本极大提升了UV范围的灵敏度
