长光辰芯发布GLT5009BSI-DUV版本,助力半导体缺陷检测
judy-- 周四, 08/15/2024 - 14:43产品采用先进的背照式技术,在GLT5009BSI可见光版本的基础上,DUV版本极大提升了UV范围的灵敏度
产品采用先进的背照式技术,在GLT5009BSI可见光版本的基础上,DUV版本极大提升了UV范围的灵敏度
长光辰芯发布全新系列芯片——GLR1205BSI-S。GLR是长光辰芯线阵芯片GL中的全新子系列,是基于长方形像素尺寸设计的线阵图像传感器。
GL7004采用7um像素设计,具有10.5ke⁻的满阱和4.3e⁻的读出噪声,单幅最高动态范围可达61.5dB。芯片的峰值量子效率为76.8%
GSENSE6510BSI具有3200 (H) x 3200 (V)的有效分辨率,采用了sCMOS经典的6.5μm x 6.5μm像素尺寸,其对角线达29.4mm,可满足大视场显微镜的应用需求
GCINE3243采用了先进的混合堆栈背照式(hybrid stacking BSI)工艺,在保证高量子效率前提下实现了8K超高分辨率下更快的读出速度。
GMAX3413采用了2.73:1的超宽视场设计,在相同的光学尺寸下可获得更多水平方向的图像信息,使其更适用于智能交通、工业扫码等场景的应用。
该芯片采用了3.5μm全局快门像素, 具备高分辨率、高行频、高可靠性、低功耗等特点,可广泛适用于锂电检测、屏幕检测、印刷品检测、自动分拣、轨道安全检测等领域
GMAX4002高速版支持8对sub-LVDS接口,在10bit ADC输出模式下,单通道最大数据率提升50%(从800Mbps提升至1200 Mbps),全分辨率下最高帧频从229 fps提升至344fps
GSENSE1081BSI作为长光辰芯目前靶面最大的图像传感器,具有89 mm x 91.2 mm的超大感光面积和8100万的高分辨率